DS半球發(fā)射率測量?jì)x
產(chǎn)品型號: | |
更新日期: | 2016-04-06 |
訪(fǎng)問(wèn)次數: | 4040 |
本發(fā)射率測量?jì)x是用于測量發(fā)射率的設備。
詳細資料:
【產(chǎn)品概述】
本發(fā)射率測量?jì)x是用于測量發(fā)射率的設備。主要特點(diǎn)為:
1. 重復性:±0.01 輻射單元
2. 操作簡(jiǎn)單:該設備的探測器部分可以電加熱,所以樣品無(wú)需加熱。無(wú)需進(jìn)行溫度測量。
3. 快速測量:設備本身預熱時(shí)間為30 分鐘,之后每1.5 分鐘可以進(jìn)行一次輻射測量。
在150F(65℃)時(shí),發(fā)射率測量?jì)x的發(fā)射率測量值接近全半球發(fā)射率。探測器只對輻射熱轉移有反應,該設計滿(mǎn)足電壓隨發(fā)射率成線(xiàn)性輸出。數字電壓表是發(fā)射率測量?jì)x的讀出設備,右下角處設有一個(gè)調節鈕,通過(guò)調節該鈕,可以使讀出的電壓數與校準標樣的發(fā)射率保持*。之后,當發(fā)射率測量?jì)x的探測器被放置在待測材料表面上時(shí),數字式電壓表便會(huì )直接顯示發(fā)射率數值。
發(fā)射率測量?jì)x可以對橫截面直徑5.7 厘米的平面材料進(jìn)行測量。其適配器1 和適配器3 可以實(shí)現對橫截面直徑為2.54 厘米的平面材料進(jìn)行測量。我們也可以根據用戶(hù)的需求定制用于圓柱形表面及其他表面測試的適配器。測量發(fā)射率需要兩個(gè)步驟:
1. 將發(fā)射率探測器置于高發(fā)射率標樣之上,調節數字電壓表的讀數,以顯示其發(fā)射率;
2. 將發(fā)射率探測器置于被測樣品之上,從數字電壓表直接讀出其發(fā)射率。
【發(fā)射率測量?jì)x技術(shù)規范】
1. 讀數:通過(guò)數字電壓表讀出數據
2. 輸出:2.4 毫伏額定電壓,樣品發(fā)射率0.9,樣品溫度78F(25℃)。額定輸出電阻150歐。
3. 線(xiàn)性:探測器線(xiàn)性輸出,發(fā)射率在+/-0.01 單位以?xún)取?/span>
4. 時(shí)間常數:額定10 秒(時(shí)間達到zui終值的63%)
5. 熱槽:用于保持校準標樣和待測材料處于同一溫度下
6. 樣品溫度:zui高130F。樣品和校準標樣必須處于同一溫度下。
7. 偏差:由于室溫的變化,輸出將隨時(shí)間變化。該偏差可忽略。
8. 標準樣品:隨發(fā)射率測量?jì)x將交付4 個(gè)校準標樣,兩個(gè)高發(fā)射率校準標樣和兩個(gè)低發(fā)射率校準標樣。一套高低發(fā)射率校準標樣將在工作中使用,另一套將作為參照物被存儲。工作標樣將定期根據存儲標樣進(jìn)行降解測試。
9. 直流功率適配器:通用直流適配器,100-240V,50-60Hz,直流12W。使用美標電源線(xiàn)。
發(fā)射率測量?jì)x系統包括發(fā)射率探測器、用于直接讀取發(fā)射率的數字式電壓表、功率/輸出線(xiàn)纜、熱槽、兩個(gè)高發(fā)射率校準標樣、兩個(gè)低發(fā)射率校準標樣、技術(shù)注解和操作手冊。